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Elektrophysik上海總代理

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Elektrophysik上海總代理

 

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功能 

型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量

應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,可設寬容度極限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)

-

1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計計算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar

-

讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

-

-

-

分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值

-

-

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

-

其他功能

透過涂層進行校準(CTC)

-

在粗糙表面上作平均零校準

利用計算機進行基礎校準

補償一個常數(shù)(Offset)

-

-

外設的讀值傳輸存儲功能

-

保護并鎖定校準設置

更換電池是存儲數(shù)值

設置極限值

-

-

公英制轉(zhuǎn)換

連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

-

-

連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

-

-

浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送

組內(nèi)單值延遲顯示

-

連續(xù)測量模式中顯示zui小值

 


所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。

 

MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)

  所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
  N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
  FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

探頭

量程

低端分辨率

誤差

zui小曲率半徑

zui小測量區(qū)域直徑

zui小基體厚度

探頭尺寸
(mm)




F05

0-500um

0.1um

±(1%±0.7um)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62

F1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F3

0-3000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F10

0-10mm

5um

±(1%±10um)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46

F20

0-20mm

10um

±(1%±10um)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66

F50

0-50mm

10um

±(3%±50um)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70


FN1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62

FN1.6P

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面

30mm

F0.5mm/N50um

φ21x89

FN2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62




N02

0-200um

0.1um

±(1%±0.5um)

1/10mm

2mm

50um

φ16x70

N.08Cr

0-80um

0.1um

±(1%±1um)

2.5mm

2mm

100um

φ15x62

N1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

2mm

50um

φ15x62

N1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

50um

φ15x62

N2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N10

0-10mm

10um

±(1%±25um)

25/100mm

50mm

50um

φ60x50

N20

0-20mm

10um

±(1%±50um)

25/100mm

70mm

50um

φ65x75

N100

0-100mm

100um

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50um

φ126x155

CN02

10-200um

0.2um

±(1%±1um)

平面

7mm

無限制

φ17x80

 

注:

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

 

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