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elektrophysik測厚儀

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elektrophysik測厚儀MiniTest740

                   

為了質量控制和檢驗的靈活性,MiniTest740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達的部位。SIDSP探頭具有*的抗干擾性、SIDSP-測量信號高穩定性、預設選項節省您的時間和金錢、SIDSP探頭對溫度變化不敏感、SIDSP探頭適應性強、SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償。

 

elektrophysik測厚儀MiniTest740主機參數


型號 
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內置

外置

內置外置可換

數據記憶組數

10

10

100

存儲數據量

zui多10,000個

zui多10,000個

zui多100,000個

統計值

讀值個數,zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數,組統計值(標準設置/自由配置)

校準程序符合標準和規范

ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準

校準模式

出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調節補償值

極限值監控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

um,mm,cm;mils,inch,thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數據接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節AA電池

標準

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內置)/230g(外置)

MiniTest740主特點

--創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的性

-測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

 

 

篤摯儀器(上海)有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業,用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術的精益求精。

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