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EPK Minitest 2100膜厚儀

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EPK Minitest 2100膜厚儀

 

涂層測(cè)厚儀:

涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。

涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);

具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);

設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)

涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型:

1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測(cè)量精度高。

2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。

德國(guó)EPK Minitest 2100測(cè)厚儀涂鍍層測(cè)厚儀,是便攜式、無(wú)損、快速、測(cè)量覆層厚度的精密儀器。所有讀數(shù)自動(dòng)記入統(tǒng)計(jì)程序。測(cè)厚儀有兩種統(tǒng)計(jì)程序。一種是讀數(shù)統(tǒng)計(jì),一種是組統(tǒng)。

應(yīng)用于測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層、有色金屬上的絕緣覆層和絕緣基體上的有色金屬覆層等。測(cè)厚儀上電后即可用于測(cè)量。

 

EPK Minitest 2100膜厚儀

MINITEST2100型的存儲(chǔ)器陣列可自動(dòng)存儲(chǔ)10,000個(gè)以上讀數(shù)。數(shù)據(jù)可打印和統(tǒng)計(jì)評(píng)估。

  • 適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭
  • 具有自動(dòng)基板檢測(cè)的通用探頭允許鋼和有色金屬的快速測(cè)量
  • 具有幾乎無(wú)限壽命的耐磨探頭
  • 測(cè)量精度高,重復(fù)性好
  • 測(cè)量值的存儲(chǔ)與評(píng)估
  • 特殊的粗糙表面和校準(zhǔn)標(biāo)定函數(shù)未知涂層(CTC方法)
  • 所有的探頭都配備了耐磨桿,確保使用壽命長(zhǎng),也適用于磨料基板。

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號(hào)均可配所有探頭;可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。刪除操作必須在測(cè)讀后,下一次測(cè)讀前完成。

 

2100型測(cè)厚儀,根據(jù)測(cè)頭類(lèi)型的不同,分別運(yùn)用磁感應(yīng)和渦流原理測(cè)量覆層厚度,并符合以下工業(yè)標(biāo)準(zhǔn): 
DIN 50981、50982、50984;ASTM B499、B244;ISO 2178、2360;BS 5411。 
DIN 50981和50984已經(jīng)被DIN EN ISO 2178和DIN EN ISO 2360所代替。

基本操作設(shè)置:

  • 選擇測(cè)量單位: 公制 / 英制
  • 自動(dòng)關(guān)機(jī)與非自動(dòng)關(guān)機(jī)的選擇
  • 浮點(diǎn)小數(shù)和定點(diǎn)小數(shù)的選擇
  • 單值和批組統(tǒng)計(jì)之間的轉(zhuǎn)換
  • 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的人工和自動(dòng)模式之間的轉(zhuǎn)換 
  • 單次測(cè)量和連續(xù)測(cè)量模式的轉(zhuǎn)換
  • 連續(xù)模式中,測(cè)量穩(wěn)定后數(shù)據(jù)才被顯示和存儲(chǔ),連續(xù)模式有利于測(cè)量材料厚度。 
  • 背景光照明選擇(可選) 在連續(xù)模式下,保留小測(cè)量值

 

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